12/11/2020 — Uma pesquisa sobre a degradação de nanofios de cobre empregados em dispositivos eletrônicos, com participação da Escola Politécnica (Poli) da USP, teve resultados surpreendentes. Os pesquisadores analisaram o material depois de ter passado por uma câmara de vácuo para remoção de impurezas e descobriram que a presença residual de oxigênio provoca a oxidação dos nanofios, tornando-os inutilizáveis. No entanto, a oxidação se revelou uma maneira mais eficiente de obter nanopartículas de óxido de cobre, um material semicondutor usado nas indústrias da área de eletrônica.
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